Spectroscopie optique
Un certain nombre d'équipements de spectroscopie optique a été cofinancé par l'Union Européenne dans le cadre du projet CPER CISPEO.
Spectroscopie d'absorption
Spectroscopie Infra-rouge
Bruker Tensor 27
Responsable : Anaïs GOUPILLE – Bureau 030
Équipement en libre-service après avoir fait une formation avec la personne responsable de l’appareil.
Gamme de mesure : 4000-400 cm-1
Possibilité de travailler en transmission (pastille KBr, film liquide ou en solution) ou en réflexion avec le module ATR (liquides et solides purs)
Bruker Vertex 70
Responsable : Anaïs GOUPILLE – Bureau 030
Équipement principalement utilisé pour l’activité de recherche de l’équipe ModES et accessible en demande d’analyse.
Gamme de mesure : 4000-400 cm-1
Equipé d’une séparatrice IR lointain permettant de réaliser des mesures en réflexion jusqu’à 120 cm-1
Possibilité de travailler à température constante : deux effet Peltier différents, un pour les cellules FH-01 et un pour les cuves QX
Spectrocospie UV-visible
Analytik Jena specord 210
Responsable : Yann Pellegrin – Bureau 211
En libre-service après avoir suivi une formation
Double faisceau
Gamme de mesure : de 185 à 1200 nm
Équipé d’un module cinétique
CARY 5E UV-VIS-NIR (Agilent)
Responsable : Eléna ISHOW – Bureau 204
Équipements :
Gamme spectrale : 175 nm à 3300 nm
Sphère d’intégration 250 à 2500 nm
Support pour film à angle variable
Support de cuve thermostatée
Agitateur magnétique
Spectrofluométrie
Fluorolog 3 (Horiba)
Responsable : Eléna ISHOW – Bureau 204
Équipements :
Gamme spectrale : 200-850 nm
Monochromateurs doubles réseaux en excitation et en émission
Mesure en solution et en solide
FluoroMax-3 (Jobin-Yvon Horiba)
Responsable : Yann Pellegrin – Bureau 211
Émission résolue en temps
Fluotime 300 (Picoquant)
Responsable : Eléna ISHOW – Bureau 204
Équipements :
Gamme spectrale : 300-720 nm
Carte d'acquisition TimeHarp 260 PICO offrant une plage temporelle de 25 ps à 5.2 ms (time bin 25 ps)
Polariseurs de Glan Thompson en émission et en excitation (220-1500 nm)
Support pour film
Source diode laser à 450 +/- 10 nm (fwhm < 70 ps)
Source LED à 340 +/- 5 nm (fwhm < 800 ps)
Source diode laser pulsée à 640 ± 10 nm (fwhm < 90 ps) (CPER CISPEO)
Couplage fibré à un microscope (CPER CISPEO)
Microscopie à épifluorescence
Nikon Eclipse TI
Responsable : Elena ISHOW – Bureau 204
Équipements :
Source d'illumination SCOPELED quadricolore (λexc = 390 ± 8 nm ; λexc = 470 ± 16 nm ; λexc = 540 ± 21 nm ; λexc = 640 ± 10 nm)
Objectifs 10x plan apo, 40x S-fluor (NA = 0.9), 60x plan apo (NA = 1.4), 100X plan apo (NA = 1.45) (CPER CISPEO)
Montage polariseur-analyseur croisés
Bras d'illumination latéral (CPER CISPEO)
Platine motorisée avec encodeur (résolution xy 100nm) (CPER CISPEO)
Caméra couleur DS-Fi2 Nikon (matrice 1280x960 - taille pixel 3.5µm x 3.5 µm)
Caméra Neo sCMOS ANDOR (matrice 2560x2160 - taille pixel 16µ x 16µm, modes rolling shutter et global shutter)
Spectromètre IsoPlane 160 (f/3.88, focal length 203 nm) ; réseaux blazés à 500 nm ; caméra CCD Pylon-100BRX (CCD back illuminated deep depletion, 20x20 mm pixels, sensibilité spectrale 350-1050 nm)
Équipements :
Système interférométrique 2 bras
Polarisation linéaire et circulaire
Source laser argon 5W LEXEL multi-longueurs d'ondes
Refroidissement à eau
Lampe d'irradiation fibrée
Lightningcure LC8 (Hamamatsu)
Responsable : Eléna ISHOW – Bureau 204
Équipements :
Gamme spectrale : 254-600 nm
Programmation en temps et en intensité d'irradiation
Fibre optique en quartz
Filtres passe bande étroite en excitation (365 nm, 435 nm, 488 nm, 550 nm)
Filtre chaud
Collimateur rond et collimateur carré
Polarimétrie
Polarimètre (Perkin-Elmer 341)
Responsable : Erwan Le Grognec – Bureau 131
Equipements :
Lampes Hg, Na
Simulateur solaire
ABET Technologies SUN 2000
Responsable : Yann Pellegrin – Bureau 211
Champs lumineux de 12' 'x 12'' uniforme
Haute efficacité optique à 1KW/m2
Distance de travail: 48''
Digital Shutter Timer
Spectromètre portatif fibré de haute sensibilité (CPER CISPEO)
QE Pro (IDIL)
Responsable : Eléna ISHOW – Bureau 204
Equipements :
Technologie back-thinned et refroidissement à-40 °C
Autres techniques
Equipement d'imagerie optique Sarfus (Société Nanolane)
Responsable : Clémence QUEFFELEC – Bureau 209
Celui-ci permet d'effectuer des analyses de surface et des mesures d'épaisseur de reliefs avec une résolution analogue à celle de l'ellipsométrie (inférieure au nanomètre), avec un système de détection / mesure qui est monté sur un microscope optique, ce qui confère à cette technique une grande souplesse d'utilisation
Equipements :
Réfractomètre automatique 5 décimales (DUR-W2)
Dipolemètre (WTW DM 01)
Densimètre (Anton Paar DMA48)
